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東京都立大学東京都・関東

VLSI設計・テスト研究室

システムデザイン研究科 電子情報システム工学域(情報科学科)

教授 三浦 幸也

研究内容

  • VLSI設計
  • 集積回路テスト
  • アナログ/デジタル混載VLSI
  • 故障解析
  • CAD開発