研究内容
- VLSIテスト
- 故障診断
- 半導体集積回路
- LSI信頼性
- 回路シミュレーション
A以上の学会発表28件 · 2019–2025年
- 2025年6件
- 2024年2件
- 2023年6件
- 2022年10件
- 2021年2件
- 2020年1件
- 2019年1件
- ATSAIEEE Asian Test Symposium8件2025年
- GLSVLSIAACM Great Lakes Symposium on VLSI5件2024年
- DATESDesign, Automation and Test in Europe Conference4件2025年
- ISCASSIEEE International Symposium on Circuits and Systems4件2025年
- ETSAIEEE European Test Symposium2件2023年
- ICSICTAIEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology1件2022年
- IEEE-NANOAIEEE International Conference on Nanotechnology1件2022年
- VLSIDAInternational Conference on VLSI Design1件2022年
- VTSAIEEE VLSI Test Symposium1件2022年
- ITCSInternational Test Conference1件2019年
共同研究先1社
- AMD共著 · 2021年