ATPG（自動テストパターン生成）｜半導体設計 › DFT（テスト容易化設計）

ATPG（自動テストパターン生成）は、故障モデルに基づいて、回路内部に仮定した故障を検出できる入力の列を計算機で自動生成する作業である。故障は、それを活性化し、その影響を観測点まで伝える入力でなければ検出できないため、故障ごとにそうした条件を探す。スキャンなどのテスト構造と回路モデルを使い、生成したパターンは製造後にテスタから与えられる。チップ内でパターンを作るBISTとは、パターンを外部で用意する点が異なる。