BIST（組込み自己テスト）半導体設計 › DFT（テスト容易化設計）
BIST（組込み自己テスト）は、テストパターンを作る回路と結果を判定する回路をチップに内蔵し、外部のテスタに頼らずチップが自分を検査する手法である。テスタは起動と合否のやり取りだけで済むため、テスタのチャンネル数の負担が減り、多数のチップを同時に測定しやすくなる。対象によって、論理回路を検査するLBIST（ロジック組込み自己テスト）と、内蔵メモリを検査するMBIST（メモリ組込み自己テスト）に分かれる。
分類上の位置
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DFT（テスト容易化設計）の下にある工程で、同じ分類にはほかに1工程がある。
- LBIST（ロジック組込み自己テスト）：LBIST（ロジック組込み自己テスト）は、論理回路を検査するためのパターン生成と応答の圧縮をチップ内に組み込み、外部から大量のパターンを送らずに論理回路の故障を調べる方式である。
- MBIST（メモリ組込み自己テスト）：MBIST（メモリ組込み自己テスト）は、メモリを検査する制御回路と比較回路をチップ内に組み込み、決めたアドレス順とデータで書込みと読出しを行って期待値との違いを調べる方式である。