LBIST（ロジック組込み自己テスト）｜半導体設計 › DFT（テスト容易化設計） › BIST（組込み自己テスト）

LBIST（ロジック組込み自己テスト）は、論理回路を検査するためのパターン生成と応答の圧縮をチップ内に組み込み、外部から大量のパターンを送らずに論理回路の故障を調べる方式である。外部パターンへの依存を減らせ、製品として使っている最中の自己診断にも使えるが、面積とテスト電力は増える。疑似乱数のパターンでは検出しにくい故障があり、決まった手順でメモリを検査するMBISTとは性格が異なる。