MBIST（メモリ組込み自己テスト）｜半導体設計 › DFT（テスト容易化設計） › BIST（組込み自己テスト）

MBIST（メモリ組込み自己テスト）は、メモリを検査する制御回路と比較回路をチップ内に組み込み、決めたアドレス順とデータで書込みと読出しを行って期待値との違いを調べる方式である。チップに多数のメモリが内蔵されると外部端子だけで検査する負担が大きくなるため、検査をチップ内で完結させる。故障の種類によって必要な操作順が違うので、単純に全アドレスを読み書きするだけでは足りず、手順を組み合わせた検査アルゴリズムを使う。