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OPC(光近接効果補正)|前工程 › リソグラフィ › 計算機リソグラフィ

OPC(光近接効果補正)は、露光で生じる形の崩れを予測し、フォトマスクのパターンをあらかじめ別の形へ歪めておく補正技術である。露光波長より小さいパターンは線の端が縮んだり、周囲の密度によって太さが変わったりするため、マスク側で補うことでウェーハ上の仕上がりを設計に合わせる。補正するほどマスクのデータ量と描画時間が増え、検査の基準も変わる。

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計算機リソグラフィの下にある工程で、同じ分類にはほかに2工程がある。

SMO(光源マスク最適化)、SRAF(解像限界以下補助パターン)配置