計測・検査技術
Metrology / inspection engineering
寸法、膜厚、重ね合わせ、表面形状、欠陥を測り、工程の状態を把握する仕事です。工程担当者が条件を判断できるように、必要な測定項目と測り方を整えます。
担当する仕事
測定する対象と目的に合わせて装置や条件を選びます。欠陥検出では、画像や検出結果から不良の種類と分布を調べます。
工程や装置の変更後も測定結果を比較できるように、測定の再現性と条件を管理します。工程担当者へ結果を返し、改善の評価を支援します。
仕事の成果物
測定条件、検査結果、欠陥の分類、工程変化を示す解析結果をまとめます。測定対象と測定方法の対応を明確にして、工程側の判断に使えるデータにします。
扱う装置・データ
光学・電子線による検査、寸法・膜厚・形状・重ね合わせの計測と、その画像・数値データを扱います。測る対象に応じて方式を使い分けます。
学ぶ知識と経験
測定原理、光学・電子線、統計の基礎を学びます。同じ試料を条件を変えて測り、測定値の変化と試料そのものの変化を切り分ける経験が役立ちます。
近い職種との違い
加工条件を作るプロセス職に対し、計測・検査職は出来ばえを測る方法を担います。テスト職が扱う回路動作の合否判定とも、測定対象が異なります。
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職能
品質・評価18件90%
- 検査・計測技術開発エンジニア(半導体製造前工程)※業界未経験可※キオクシア
- （技術開発統括部）欠陥検査技術担当ラピダス
- RDA Application Engineerマイクロン・テクノロジー
- 半導体計測技術開発エンジニア/ Metrology Process Development Engineerマイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）eBeam担当ラピダス
- （技術開発統括部）Mask管理エンジニアラピダス
- Senior/Principal Engineer, FE OCT CPEE PHOTO METROLOGYマイクロン・テクノロジー
- 半導体計測技術開発エンジニア/ Metrology Process Development Engineerマイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）メトロロジー（MTR）担当ラピダス
- （技術開発統括部）OCDエンジニアラピダス
- Metrology Application Engineer | 歩留まり・品質改善の為の計測を開発マイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）Overlayエンジニアラピダス
- （技術開発統括部）光学検査担当ラピダス
- （技術開発統括部）評価解析エンジニア（主にウェハ欠陥検査）（国内勤務）ラピダス
- （技術開発統括部）CD-SEMエンジニアラピダス
- Central Team RDA and Metrology Engineerマイクロン・テクノロジー
- RDA and Metrology Central Team Engineerマイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）半導体パッケージプロセス検査エンジニア（Flip Chip BGA）ラピダス
製品
記載なし 16件
役職レベル
経験・学歴・英語・働き方
採用区分
- 中途18件90%
- 新卒・中途2件10%
開発フェーズ
量産維持・改善12件60%
- （技術開発統括部）欠陥検査技術担当ラピダス
- RDA Application Engineerマイクロン・テクノロジー
- 半導体計測技術開発エンジニア/ Metrology Process Development Engineerマイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）eBeam担当ラピダス
- Senior/Principal Engineer, FE OCT CPEE PHOTO METROLOGYマイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）メトロロジー（MTR）担当ラピダス
- （技術開発統括部）OCDエンジニアラピダス
- Metrology Application Engineer | 歩留まり・品質改善の為の計測を開発マイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）Overlayエンジニアラピダス
- （技術開発統括部）CD-SEMエンジニアラピダス
- Central Team RDA and Metrology Engineerマイクロン・テクノロジー
- RDA and Metrology Central Team Engineerマイクロン・テクノロジー
開発6件30%
記載なし 3件
装置
検査評価装置（ウェーハプロセス）11件55%
- （技術開発統括部）欠陥検査技術担当ラピダス
- （技術開発統括部）eBeam担当ラピダス
- 半導体計測技術開発エンジニア/ Metrology Process Development Engineerマイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）メトロロジー（MTR）担当ラピダス
- （技術開発統括部）OCDエンジニアラピダス
- （技術開発統括部）Overlayエンジニアラピダス
- （技術開発統括部）光学検査担当ラピダス
- （技術開発統括部）評価解析エンジニア（主にウェハ欠陥検査）（国内勤務）ラピダス
- （技術開発統括部）CD-SEMエンジニアラピダス
- RDA and Metrology Central Team Engineerマイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）半導体パッケージプロセス検査エンジニア（Flip Chip BGA）ラピダス
ウェーハプロセス用処理装置11件55%
- （技術開発統括部）欠陥検査技術担当ラピダス
- （技術開発統括部）eBeam担当ラピダス
- 半導体計測技術開発エンジニア/ Metrology Process Development Engineerマイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）メトロロジー（MTR）担当ラピダス
- （技術開発統括部）OCDエンジニアラピダス
- （技術開発統括部）Overlayエンジニアラピダス
- （技術開発統括部）光学検査担当ラピダス
- （技術開発統括部）評価解析エンジニア（主にウェハ欠陥検査）（国内勤務）ラピダス
- （技術開発統括部）CD-SEMエンジニアラピダス
- RDA and Metrology Central Team Engineerマイクロン・テクノロジー
- （技術開発統括部）半導体パッケージプロセス検査エンジニア（Flip Chip BGA）ラピダス
計測・分析用装置2件10%
測長SEM（CD-SEM）2件10%
欠陥レビューSEM2件10%
電子ビーム欠陥検査装置2件10%
ほか12項目
超音波検査装置（SAT）1件5%
AFM（原子間力顕微鏡）1件5%
組立検査評価装置1件5%
マスク欠陥検査装置1件5%
残り6項目は表示を省略
記載なし 8件
資格
TOEIC 600点以上（歓迎）1件5%
記載なし 17件
勤務先の種類
自社工場7件35%
- 検査・計測技術開発エンジニア(半導体製造前工程)※業界未経験可※キオクシア
- RDA Application Engineerマイクロン・テクノロジー
- 半導体計測技術開発エンジニア/ Metrology Process Development Engineerマイクロン・テクノロジー
- Senior/Principal Engineer, FE OCT CPEE PHOTO METROLOGYマイクロン・テクノロジー
- 半導体計測技術開発エンジニア/ Metrology Process Development Engineerマイクロン・テクノロジー
- Metrology Application Engineer | 歩留まり・品質改善の為の計測を開発マイクロン・テクノロジー
- Central Team RDA and Metrology Engineerマイクロン・テクノロジー
記載なし 13件
この職種の求人20件
- 募集している会社
- 勤務地
- 北海道10
- 広島県7
- 京都府2
- 海外1
- 三重県1
キオクシア検査・計測技術開発エンジニア(半導体製造前工程)※業界未経験可※三重県堀場製作所堀場アドバンスドテクノ/半導体ウェットプロセス向け計測器の開発(京都)京都府堀場製作所堀場アドバンスドテクノ/半導体洗浄装置向けプロセス計測機器の戦略立案および製品開発(京都)京都府ラピダス（技術開発統括部）欠陥検査技術担当北海道マイクロン・テクノロジーRDA Application Engineer広島県マイクロン・テクノロジー半導体計測技術開発エンジニア/ Metrology Process Development Engineer広島県ラピダス（技術開発統括部）eBeam担当北海道ラピダス（技術開発統括部）Mask管理エンジニア北海道