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in-situ計測とは

in-situ計測(In-situ Metrology)とは、基板を工程装置の外へ出さず、処理の場所で状態を測る方法です。膜厚や反応の進行を処理中に観測し、条件の調整や終点の判断へ使います。

搬送せず素早く測れますが、工程環境が計測へ影響します。直接測れる量とモデルで推定する量を区別し、外部の参照計測で関係を確認します。

工程と構造
基板を搬出せず、工程内の状態を測るセンサ処理中の基板工程装置基板・膜観測の経路
装置内の膜や反応を、その場で観測します。搬出後の測定と違い、工程環境がセンサの信号へ影響します。

in-situ計測の工程では1、基板を工程装置の外へ出さず、処理の場所で状態を測る方法です。膜厚や反応の進行を処理中に観測し、条件の調整や終点の判断へ使います。

装置内のセンサで光、温度、ガスや電気信号などを取得します。信号を測りたい状態へ対応付け、処理を調整したり、停止後の外部計測と照合したりします。

工程と構造
工程信号と、実際の状態を対応付ける工程の変化時間センサ信号判断する時点
処理と同じ時刻の信号を取得し、膜厚や反応の変化へ対応付けます。参照計測で信号と実際の状態の関係を確認します。

センサの校正、装置内の窓や壁の汚れ、取得位置、処理との時間対応を管理します。センサ値と実際の膜の状態がずれると、誤った条件変更につながります。

in-situ計測では1、処理と同じ時刻のセンサ信号、装置条件、推定した膜厚や反応状態、終点または補正判断を一緒に記録します。信号の変化が実際の基板状態を表すか、搬出後の参照計測で校正します。窓の汚れ、感度ドリフト、演算遅延を工程変動と分け、誤った停止や条件補正を防ぎます。

in-situ計測は何をする工程ですか?

基板を工程装置の外へ出さず、処理の場所で状態を測る方法です。膜厚や反応の進行を処理中に観測し、条件の調整や終点の判断へ使います。

どの段階で行いますか?

装置内のセンサで光、温度、ガスや電気信号などを取得します。信号を測りたい状態へ対応付け、処理を調整したり、停止後の外部計測と照合したりします。

どこを管理しますか?

センサの校正、装置内の窓や壁の汚れ、取得位置、処理との時間対応を管理します。センサ値と実際の膜の状態がずれると、誤った条件変更につながります。

  • 計測── 関連する工程・材料の説明
  • 検査── 関連する工程・材料の説明
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    SEAJ 半導体製造装置用語集seaj.or.jp ・ 2026年10月12日閲覧 ab