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イオンシャワーとは

イオンシャワー(Ion Shower)とは、プラズマから取り出した広いイオン流を、基板へ照射する処理です。 細いビームを走査する方式とは、イオンを供給する範囲と装置の構成が異なります。広い面へ一度に照射できる代わりに、基板へ届くイオンの種類と深さの分布を管理する必要があります。評価の基準は、プラズマの状態と、基板へ実際に届いた線量の両方です。

ビームを走査せず、プラズマから引き出した広いイオン流をそのまま当てる

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原料ガスからプラズマを作り、イオンを引き出して基板へ加速します。照射は基板の広い面に一度に及び、その後、必要に応じて注入後の活性化や結晶回復へ進みます。

通常のイオン注入は、イオン源で作ったイオンから質量分析で狙う種だけを選び、加速した細いビームでウェーハを走査します。イオンシャワーは、イオンを供給する範囲と装置の構成がこれと違います。質量分離を通さないイオンも基板へ届くので、基板の上で混ざるイオンの組成は質量分離の有無で変わります。

ビーム注入との違い
ビーム注入イオンシャワーイオン源質量分析走査プラズマ狙いのイオンそれ以外のイオン基板
ビーム注入は質量分析で狙いの種だけに絞った細いビームで基板を走査します。イオンシャワーはプラズマから引き出したイオンを基板の全幅へ同時に当て、質量分離を通さないイオンも混ざって届きます。

広く当てられる代わりに、届くイオンの種類と量を管理する

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管理する条件は、加速、イオンの種類、照射量、基板温度、面内の均一性です。混在するイオンの組成は質量分離の有無で変わるので、通常のビーム注入と同じ組成を仮定しません。

同じ照射時間でも、位置ごとの供給量とイオン種によって、基板への取り込みは変わります。そのため、プラズマの状態だけで判断せず、基板へ実際に届く線量と合わせて評価します。

供給した量と、電気的に働く量は同じではない

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処理後は、ドーズ、深さ分布、面内均一性、結晶損傷、活性化後の電気特性を確認します。供給した不純物量と、電気的に働く不純物量は同じではありません。照射の直後は一部の原子が格子間位置にあり、結晶にも損傷が残ります。熱処理で格子を回復し、置換位置でキャリアを供給するドーパントを増やす工程がドーパント活性化です。

照射直後と活性化後
照射直後活性化後結晶損傷活性化アニールシリコン原子置換位置のドーパント格子間のドーパント
照射直後のドーパントは格子間位置にあり、表層の結晶も乱れています。活性化アニールで並びを回復しても、置換位置に入って電気的に働くのはその一部です。

そのため後段の熱処理まで含めて条件を組みます。エネルギー、時間、表面状態と後段の熱処理を対応付け、浅さと必要な濃度の両方を管理します。

イオンシャワーは何をする工程ですか?

プラズマから取り出した広いイオン流を、基板へ照射する処理です。細いビームを走査する方式とは、イオンを供給する範囲と装置の構成が異なります。

どの段階で行いますか?

原料ガスからプラズマを作り、イオンを引き出して基板へ加速し、基板の広い面を処理します。その後、必要に応じて注入後の活性化や結晶回復へ進みます。

どこを管理しますか?

加速、イオンの種類、照射量、基板温度、面内の均一性です。混在するイオンは質量分離の有無で変わるので、通常のビーム注入と同じ組成を仮定せず、基板へ実際に届く線量で評価します。

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    SEAJ 半導体製造装置用語集seaj.or.jp ・ 2026年10月12日閲覧