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シード層フラッシュエッチングとは

シード層フラッシュエッチング(Seed Layer Flash Etching)とは、パターンめっきとレジスト剥離の後、配線間に残る薄い導電下地を除いて回路を絶縁する工程です。厚く育てた回路の銅を残し、薄いシードを取り除きます。

シードを除去する時間が短いと回路間に銅が残ります。一方、長くすると配線の上面と側面まで削れるため、絶縁と配線寸法の両方で終点を決めます。

シード層フラッシュエッチングの仕組み

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構造と工程の関係
配線間の薄い銅だけを除く剥離後の下地銅下地を除去配線間を絶縁対象材料・信号周辺材料
断面の形を比較すると、回路間の薄い銅を除き、厚く成長した銅を残すことが分かります。図は寸法を規定しない模式図です。

SAPやmSAPでは、回路間にも薄い銅の導電層があります。これを短時間のエッチングで除き、厚い銅配線を互いに独立させます。1

ウェットエッチングはシードだけでなく配線表面にも作用します。電解めっきで厚さを確保しておくことと、シードの厚さを均一にすることが、除去後の寸法を保つ条件です。

構造と工程の関係
シード除去の不足と過剰を分ける側面が後退不足:回路間の銅が残る過剰:配線も削れる対象材料・信号周辺材料
導通と寸法を別々に確認します。シードを除いても、配線と樹脂の界面へ回り込みすぎない条件が必要です。

パターンめっきを終えた後にレジストを剥がし、露出したシード層を除去します。洗浄して残留銅と配線幅を検査し、絶縁層の積層や表面処理へ渡します。1

穴の中と平面で銅膜の厚さが違うと、全体を同時に仕上げにくくなります。薄いシードを確実に除く条件を、回路の側面後退と合わせて決めます。

残留シード、配線の幅と高さ、側面のえぐれ、樹脂との界面、回路間の絶縁を確認します。

短絡位置がエッチング前の触媒や残留レジストと重なるかも調べます。液の劣化や局所的な膜厚差を、露光の寸法ずれと混同しないようにします。

完全なシード除去を優先すると、銅配線の側面と界面まで削る余裕が小さくなります。除去する銅の量を初期工程で減らし、残留と側面損失の両方を抑えます。

シード層フラッシュエッチングは何をする工程ですか?

パターンめっきとレジスト剥離の後、配線間に残る薄い導電下地を除いて回路を絶縁する工程です。厚く育てた回路の銅を残し、薄いシードを取り除きます。

どの段階で行いますか?

パターンめっきを終えた後にレジストを剥がし、露出したシード層を除去します。洗浄して残留銅と配線幅を検査し、絶縁層の積層や表面処理へ渡します。

何を管理しますか?

残留シード、配線の幅と高さ、側面のえぐれ、樹脂との界面、回路間の絶縁を確認します。

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    表面技術協会 SAPのシードエッチングjstage.jst.go.jp ・ 2026年10月12日閲覧 ab