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EES(装置エンジニアリングシステム)とは

EES とは、装置エンジニアリングの業務を支えるために、装置のデータを集めて使える形にする仕組みです。 装置の側と工場の側が、役割を分けて受け持ちます。

秒ごとの波形は量が膨れ、装置ごとに形もまちまちなため、そのままでは工場の中を渡りきれません。EES は代表値へ畳んでから配ります。

装置の中身は装置メーカ、工場の流れはデバイスメーカが受け持つ

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受け持ち
装置の側と、工場の側で受け持ちます装置 A装置 B装置 CL-EES装置メーカ側F-EES(デバイスメーカ側)時系列センサデータを平均値や標準偏差へ代表値化して集めるFDCVMAPC集めた先で、監視と予測と制御が動きます
EES は、デバイスメーカ側が用意する F-EES と、装置メーカ側が用意する L-EES に分かれます。F-EES は装置の時系列センサデータを代表値化して集め、FDC・VM・APC へ渡します。

EES は装置エンジニアリング業務を支援するためのシステムで、デバイスメーカ及び装置サプライヤが一体となって情報の提供・管理を行います1。デバイスメーカ側が用意する F-EES(Factory EES)と、装置メーカやサプライヤが用意する L-EES(Local EES)に分類されます1。

装置の中で何が起きているかは装置メーカが詳しく、工場全体をどう流すかはデバイスメーカが詳しいという役割分担です。その境目に、データの受け渡しの取り決めが要ります。

波形を代表値へ畳むと工場全体で比べられるが、細かい形は手元を離れる

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渡し方
生データのまま配るのは無理があります装置のセンサ秒ごとの時系列装置ごとに型式も異なる代表値化解析用データベース平均値・標準偏差など製品一つひとつに紐付く現場エンジニアは、ここから製品単位でデータを取り出せます代表値にした時点で、秒単位の細かい形は手元から離れます
秒ごとの時系列センサデータを平均値や標準偏差などへ畳み、製品一つひとつに紐付けて解析用データベースで一元管理します。

工場内の複数台数と種類の装置が生む時系列センサデータは、F-EES により平均値や標準偏差などへ代表値化されて収集されます2。データは解析用データベース上で一元管理され、現場エンジニアは製品一つひとつに紐付いたデータを容易に取得できます。

代表値へ畳むと、工場全体で比べられる大きさになります。その代わり、秒単位の細かい形は手元から離れます。何を代表値に選ぶかが、後から追える範囲を左右します。

集めた先で、FDC・VM・APCが監視と予測と制御を回す

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製品の品質と歩留を継続的かつ安定的に確保するには、装置・プロセス・製品の出来栄え状態をリアルタイムに監視・制御する仕組みが必要です2。それを実現する技術がFDC・VM・APCで、装置データと紐付いたデータセットで解析やモデリングを行います。VM や APC は、このデータセットでリアルタイムの出来栄え監視とプロセスパラメータの制御を実現しています。

AEC は、APC・SPC・FDC 等の技術を利用した先進的な装置制御の総称です1。EES は、その前段でデータを整える土台にあたります。

受け渡しの型が揃っているほど、装置を入れ替えても仕組みが残る

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SECS は SEMI Equipment Communications Standard1 の略で、SECS-I、SECS-II、HSMS 等の規定があります。

TDI(Tool Data Integration)は、日本国内のデバイスメーカを中心に規定している装置データインターフェースです1。装置側が装置データを一時保存するための DB を持ち、上位システムがその DB にアクセスして必要なデータを収集するコンセプトです。

RaP は、装置共通化と APC を容易に適用するためのレシピの構造で、SEMI 標準の E139 などで規定されています1。型が揃っているほど、装置を入れ替えても仕組みが生き延びます。

畳む、残す、型に合わせる、のどれにも代償がある

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代表値へ畳めば工場全体で集めて比べられますが、秒単位の波形だけに出る異常は、後から追う手立てを失います。生データを残せば追跡できる一方、保存と転送の費用が装置台数ぶん積み上がります。標準の型に合わせれば装置を入れ替えても仕組みが残るものの、装置固有の情報が型からこぼれることがあります。装置メーカ側に解析を持てば中身に強い診断が成り立ちますが、工場全体を横断して見渡す目は薄くなります。

EES とは何ですか?

装置エンジニアリング業務を支援するためのシステムです。

どう分けていますか?

デバイスメーカ側が用意する F-EES と、装置メーカやサプライヤが用意する L-EES に分類されます。

なぜ二つに分けるのですか?

装置の中身に詳しいのは装置メーカ、工場全体の流れに詳しいのはデバイスメーカだからです。持ち場が異なります。

どんなデータを集めますか?

複数台数と種類の装置が生む時系列センサデータです。F-EES がこれを平均値や標準偏差などへ代表値化して収集します。

代表値にする理由は何ですか?

秒ごとの波形のままでは量が膨れ、装置ごとに形もまちまちなためです。畳んではじめて工場全体で比べられます。

集めた先で何をしますか?

そのデータセットを使い、VM や APC でリアルタイムの出来栄え監視とプロセスパラメータの制御を実現します。

現場はどう使うのですか?

データは解析用データベース上で一元管理され、現場エンジニアは製品一つひとつに紐付いたデータを容易に取得できます。

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