ターゲットポイズニングとは
ターゲットポイズニングとは、反応性スパッタ中にターゲットの表面と表面近くが酸化物や窒化物などの化合物へ変わる現象です。 原子を取り出す面が変わるため、金属の供給量と成膜速度が変わります。
スパッタリングで反応性ガスを供給し、膜に酸素や窒素を取り込ませます。一方、同じガスがターゲットにも作用し、成膜速度が急に落ちることがあります。膜の組成とターゲットの化学状態を合わせて管理する理由がここにあります。
膜を作るガスが、ターゲットの表面も変える
Section titled “膜を作るガスが、ターゲットの表面も変える”反応性スパッタは、アルゴンなどのイオンでターゲットから金属を取り出し、酸素や窒素などを供給して化合物膜を作る方法です。反応ガスは成膜する面に加えて、金属ターゲットの表面とも反応します1。出発点が同じターゲットでも、成膜中に原子を取り出す面の組成が変わります。
イオン1個の衝撃で放出される原子数をスパッタ収率と呼びます。化合物は金属よりスパッタ収率が低くなることが多く1、化合物面が広がると、成膜へ送る金属が減ります。ポイズニングによる速度低下は、この表面の変化から始まります。
膜に必要な反応元素を十分に与えることと、ターゲットから金属を速く取り出すことが競合します。膜の組成を変えるつもりでガスを増やした操作が、金属の供給源まで変えてしまうためです。
化合物を作る反応と、スパッタ除去が競合する
Section titled “化合物を作る反応と、スパッタ除去が競合する”ターゲットの化合物化には、表面での化学吸着、反応性イオンの打ち込み、拡散が関わります2。化学吸着では、反応元素が表面の金属と結合します。打ち込みでは、加速された反応性イオンが表面近くへ入り、内部の金属とも反応します。熱がかかる工程では、反応元素がさらに内部へ広がる拡散も加わります。
同時に、イオン衝撃は化合物になった部分を取り除きます。表面で化合物を作る作用と、スパッタで除く作用の釣り合いが、ターゲットの化学状態を決めます3。分圧は、混合気体の中でそのガスが受け持つ圧力です。反応性ガスの分圧を上げると作る側が強まり、化合物面の割合が増えます。
マグネトロンでは、磁石に沿った帯でターゲットが強く削られます。この帯をレーストラックと呼び、化合物層の厚さも帯の中の位置によって変わります2。ターゲット全体の平均に加え、イオンが当たる面と、その周りの被覆も管理対象になります。
誘電体の被覆では、帯電とアークも管理する
Section titled “誘電体の被覆では、帯電とアークも管理する”化合物の電気的な性質は材料で変わります。形成した化合物が誘電体なら、プラズマから来た電荷が表面にたまります。この帯電はアークを生じ、ターゲットや成膜する基板を傷めます1。放電で電子を受け取る陽極側にも絶縁性の膜が積もると、放電を維持しにくくなります。
帯電を緩和する手段に、直流電圧を周期的に変えるパルスDCがあります1。電源で電荷の蓄積を抑え、反応性ガスの分圧でターゲットの化合物化を制御します。膜組成と金属の供給量を合わせ、アークによる損傷も管理します。
流量の設定に、ターゲットの状態を対応させる
Section titled “流量の設定に、ターゲットの状態を対応させる”金属モードは金属面が多い状態、化合物モードは化合物面が多い状態です。工程開発では、反応性ガスの分圧、成膜速度、膜組成を合わせて見ます。必要な組成を得る位置が両者の間にある場合は、プラズマの発光を測る光学監視などを使い、反応ガスの供給を制御します1。材料に応じて、ターゲット電圧も制御信号として使います。
マスフローコントローラに同じ流量を設定しても、化合物化したターゲットは以前の状態へすぐには戻らないことがあります。この履歴依存が反応性スパッタのヒステリシスです。立ち上げと条件変更の後にターゲット状態を確認し、PVD工程の膜厚と組成の再現性へつなげます。
トレードオフ
Section titled “トレードオフ”反応性ガスを増やすと、必要な膜組成を得やすくなる一方、ターゲットの化合物面が増えて金属供給が減ります。金属面を多く保つ条件では高い成膜速度を狙えますが、反応元素が不足すると膜の組成がずれます。狙う組成を満たすターゲット状態を選び、その状態で得られる速度と放電の安定性を評価します。
よくある質問(FAQ)
Section titled “よくある質問(FAQ)”ターゲットポイズニングとは何ですか?
反応性スパッタの途中で、ターゲットの表面と表面近くが酸化物や窒化物などの化合物へ変わる現象です。金属面と化合物面でスパッタ収率が異なり、金属の供給量や成膜速度が変わります。
反応性ガスはどこで化合物を作りますか?
基板上に膜を作る反応に加え、ターゲット側でも反応します。表面での化学吸着、反応性イオンの打ち込み、熱がかかる工程での拡散が化合物化に関わります。
なぜ成膜速度が落ちますか?
多くの材料系では、化合物のスパッタ収率が金属より低いためです。表面の化合物面が増えると、イオン衝撃で取り出せる金属が減り、成膜へ送る金属も減ります。
放電の管理では何を見ますか?
形成した化合物の電気伝導性を見ます。誘電体の被覆は電荷をため、アークによるターゲットや膜の損傷を招きます。帯電にはパルスDCなどを使い、化合物化には反応性ガス分圧の制御を合わせます。
ポイズニングとヒステリシスはどう違いますか?
ポイズニングはターゲットの化合物化です。ヒステリシスは、ガス流量を増やすときと減らすときで分圧や成膜速度が違う枝をたどる履歴依存です。化合物化が金属供給とガス消費を変えることで、両者がつながります。
比較・違いを学ぶ
Section titled “比較・違いを学ぶ”- 反応性スパッタのヒステリシスとは── ターゲットの変化がガス消費と履歴依存につながる機構
- スパッタリングターゲットとは── 成膜へ金属を供給する材料と構造
3件を表示
- 1
- 2Audronis・Zimone: 反応性スパッタの技術講演資料angstromsciences.com ・ 2013)(2026年10月14日閲覧 ab
- 3Särhammar・Nyberg・Berg: Applying The Upgraded Berg Model to Predict Hysteresis Free Reactive Sputteringsvc.org ・ SVC(2015)(2026年10月14日閲覧) ↩