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極低温エッチング、径の差を10 nm未満に|Lam、3D NANDの深さ10 µmの穴

Lam Researchが2024年7月31日に発表したLam Cryo 3.0とは1、ウェーハを0°Cより十分低い温度に冷やして絶縁膜を掘る極低温エッチングの第3世代を指す。3D NANDのメモリチャネル(チャネルホール)を、深さ最大10 µm、上端から下端までのCD(穴の径)のずれを0.1%未満に抑えて掘るとLamは発表した。この0.1%は径ではなく深さで割った値で、深さ10 µmの穴なら径の差は10 nm未満になる。

速さも上がる。Lamによれば、従来の誘電体エッチングと比べて掘る速さは2.5倍で、ウェーハごとのばらつきも小さい。Motley Foolが掲載した決算説明会の書き起こしによれば、Tim Archer CEOは発表当日の2024年7月31日(米国時間)の決算説明会で、この形の精度があれば1層あたりのセルを増やし、1段あたりの層を増やす柔軟性も得られる2と述べた。Lamが公表値で示したのは、深さ最大10 µm、径の差0.1%未満、掘る速さ2.5倍の3つだ。

3D NANDの容量は、積層膜を貫く穴の形に左右される

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3D NANDは、メモリセルを縦に積み重ねて容量を増やす。酸化膜と窒化膜を何百層も重ね、その全層を1本の縦穴で貫いてセルの列を作る。層が増えるほど、穴は深さに比べて幅の小さい高アスペクト比の形になる。Lamの発表に寄せたCounterpoint Researchのコメントによれば、Cryo 3.0で掘る穴は深さが幅の50倍を超える1。

Lamは、この深く細い穴が狙った形から原子の尺度でずれるだけで、ダイの電気特性が損なわれ、歩留まりに響くとしている1。エッチングで削る仕組みと断面に出る不良の基本はエッチングの解説にまとめている。

図1深い穴のどこで形が崩れるか
積層膜 深さ 最大10 µm 入口が広がる 上端で測るCD 途中が樽状に膨らむ 途中で測るCD(ボーイング) 下端の径が細る 下端で測るCD 狙った太さ(破線)
深い穴の形の崩れは、入口の広がり、途中の膨らみ(ボーイング)、下端の細りとして出る。Lamの寸法差は、この3か所を含む穴全体の最大CDと最小CDから計算する。

0.1%は深さで割った値で、10 µmの穴なら径の差は10 nm未満になる

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Lamの定義では、寸法差は穴全体で最も太いCDから最も細いCDを引き、メモリチャネルの深さで割った値だ1。入口の広がり、途中のボーイング、下端の細りのどれが最大や最小になっても、1つの値に入る。Archer CEOは同じ値を10 nm未満、深さの0.1%未満2と言い換えた。

図2深い穴の径をそろえる
形が崩れた深い穴 Cryo 3.0が狙う形 上端 途中 下端 積層膜 深さ 最大10 µm 深さで径がばらつく どの深さでも径がそろう 寸法差 0.1%未満
Lamの寸法差は、穴の中で最も太いCDと最も細いCDの差を深さで割った値だ。深さ10 µmの穴で0.1%未満なら、上端から下端までの径の差は10 nm未満になる。

Counterpointの「50倍超」を深さ10 µmの穴に当てはめて計算すると、幅は200 nm未満で、10 nmは径の5%を超える。どの深さでCDが最大や最小になるかを工程、装置、チャンバーの単位まで絞り込むときは、歩留まりと欠陥管理と同じ切り分け方を使う。

低温は新しい化学反応を使うための条件で、高出力プラズマと組み合わせる

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Lamの製品ページは3、低温にすると新しい化学反応を使えるようになり、高アスペクト比のエッチングで速さと側壁の垂直さが上がるとする。Lamのブログは、極低温エッチングを絶縁膜の高アスペクト比エッチングに使うと、解離していない反応種が表面に物理吸着し、表面の被覆が1〜2倍になる4と書く。Cryo 3.0に限らない、極低温の絶縁膜エッチング全般の説明だ。

Cryo 3.0は、この低温に高出力の閉じ込め型プラズマ反応室と表面化学の改良1を組み合わせる。最新の誘電体エッチング装置Vantexのパルス化したプラズマと組み合わせると、掘れる深さと形の制御がさらに上がる。Archer CEOは、Vantexに載せたCryo 3.0は業界で最も高いイオンエネルギー2で掘ると説明した。

図3低温で反応種の付き方を変える
高出力プラズマ 反応種 超低温の積層膜 反応種の付き方と 反応の進み方が変わる 表面に付く反応種が増える 低温で物理吸着が増える 下へ掘り進む Vantexでは高いイオンエネルギー
Lamの説明では、低温にすると表面に物理吸着する反応種が増え、新しい化学反応を使えるようになる。Cryo 3.0はこれを高出力の閉じ込め型プラズマと組み合わせる。

Cryo 3.0の掘る速さは、従来の誘電体エッチングの2.5倍で、前世代の極低温の2倍だ

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Lamのブログによれば、Cryo 3.0の掘る速さは従来のプラズマエッチングの2.5倍、Lamの前世代の極低温エッチングの2倍だ4。発表は、ウェーハごとの再現性も上がり、高い歩留まりを低いコストで得られるとする。

Lamは、この速さと形の精度を並べて示した。Lamと東京エレクトロン(TEL)が極低温エッチングをどう量産に持ち込もうとしているかは、2社の極低温チャネルホールエッチングの比較で比べる。

既存のFlexにも載り、装置を入れ替えずに使える

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Cryo 3.0は、新しいVantexにも、主要なメモリーメーカーすべてが3D NANDの量産に使うFlex1にも載る。製品ページは3、今ある装置と今後の装置にCryo 3.0を加えれば、顧客は装置への投資を生かせるとする。NAND向けにLamが量産で使われている絶縁膜エッチングの室数と、そのうち極低温の室数は3社のエッチング装置の得意工程にまとめた。VantexやFlexを他社の最新装置と並べた比較はTEL、AMAT、Lamの最新装置にある。

電力40%減と排出最大90%減は、Lamの自社試算だ

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Lamは、従来のエッチングと比べてウェーハ1枚あたりの消費エネルギーが40%減り、排出量は最大90%減るとする1。排出の値は、IPCCの温室効果ガス目録の指針に沿ったLamの試算だ。この2つの数字が何から出ているか、TELの試算とどう並ぶかは、極低温エッチングの電力と排出の試算で比べる。

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