外部ループバックテストとは
外部ループバックテスト(External Loopback Test)とは、デバイスの出力を外部の経路で入力へ戻し、送受信回路と信号経路を試験する方法です。 送ったデータと戻ったデータを比較し、伝送の異常を確認します。送受信とピンの先の経路をまとめて試せる代わりに、失敗したときに原因を分離しにくくなります。結果の価値は、治具側の誤りをデバイスの不良から切り離せるかで決まります。
自分の送信を自分の受信で受け、送ったデータと戻ったデータを比べる
Section titled “自分の送信を自分の受信で受け、送ったデータと戻ったデータを比べる”DFT(テスト容易化設計)の技術の一つに、送受信の両方の機能を1チップに持つデバイスで、自らの送信信号を自身の受信機能で受け取って機能を判定するループバック試験があります1。外部ループバックテストでは、デバイスの出力を外部の経路で入力へ戻し、送受信回路と信号経路を試験します。
手順は、送信端と受信端をテスト治具などで接続し、既知のデータを送るところから始まります。受信したデータの誤りや信号の状態を測り、送ったデータと戻ったデータを比較して機能を判定します。応答は期待値と比較します。機能・構造・システムの試験では、与える入力と観測する範囲が異なります。
内部ループバックとの違いは、折り返し点をロードボードなどデバイスの外部に置くこと
Section titled “内部ループバックとの違いは、折り返し点をロードボードなどデバイスの外部に置くこと”ループバックの試験機能はデバイスの内部に組み込まれることが多く、これを内部ループバックと呼びます。ロードボード上の追加回路などで、同等の信号経路をデバイスの外部に設ける環境が外部ループバックです1。二つは、試験する経路が異なります。内部ループバックは送受信の回路を確かめ、外部ループバックはそこへピンとボード上の経路を足します。
外部の経路は、ATEのロードボード上の追加回路などで組みます。そのため、外部経路の損失、接続、タイミング、データ列と信号品質を管理します。
送受信をまとめて試せる代わりに、失敗の原因を切り分けにくい
Section titled “送受信をまとめて試せる代わりに、失敗の原因を切り分けにくい”送受信を1回でまとめて試せるのが、外部ループバックの利点です。その代わり、失敗したときに原因を分離しにくくなります。戻ったデータの誤りは、送信回路、受信回路、接触、ボード上の経路のどこでも生じえます。個別の送信・受信試験と併用し、対象の速度で経路が安定するかを確認します。
治具側の誤りを、デバイスの不良と混同しないことが要点です。試験を組む段階で、送信・受信・外部接続のどこまでを判定に含むかを決めます。不合格がDUT固有か、接触や外部経路によるものかは、再測定や既知良品で切り分けます。
治具と経路の状態を、デバイスの結果と一緒に記録する
Section titled “治具と経路の状態を、デバイスの結果と一緒に記録する”測定後は、刺激条件、接触・治具・校正状態、観測値、判定限界、binを一緒に記録します。平均値だけでなく分布、位置、温度、時間依存を残し、製造工程へ原因を戻せる状態にします。
よくある質問(FAQ)
Section titled “よくある質問(FAQ)”外部ループバックテストは何をする工程ですか?
デバイスの出力を外部の経路で入力へ戻し、送受信回路と信号経路を試験する方法です。送ったデータと戻ったデータを比較し、伝送の異常を確認します。
どの段階で行いますか?
送信端と受信端をテスト治具などで接続し、既知のデータを送ります。受信したデータの誤りや信号の状態を測ります。デバイスの内部だけで折り返す内部ループバックとは、試験する経路が異なります。
どこを管理しますか?
外部経路の損失、接続、タイミング、データ列と信号品質を管理します。治具側の誤りをデバイスの不良と混同せず、送信・受信・外部接続のどこを含むかを決めます。
比較・違いを学ぶ
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- 1SEAJ 半導体製造装置用語集seaj.or.jp ・ 2026年10月12日閲覧 ab