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フェルミレベルピニングとは

フェルミレベルピニングとは、金属と半導体の接合で、界面のフェルミ準位が特定のエネルギーへピン止めされるようにそろう状態です。 金属を替えても、障壁の高さはほとんど同じままです。

教科書の式では、障壁の高さは金属の仕事関数で決まります。現実の界面では、そこに生じた準位が金属の違いを打ち消してしまいます。

金属/Ge界面はS=0.02で、障壁が金属によらない

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ピン止めの強さ
金属を替えても、障壁は同じ高さです4.04.65.200.40.8金属の仕事関数 (eV)障壁の高さ (eV)弱いピン止め金属/Ge は S ≒ 0.02傾き S が小さいほど、ピン止めが強い状態です
金属/Ge 界面の S は 0.02、電荷中性準位は約 0.6 eV と見積もられています。バーディーン極限に近い状態です。

金属/Ge 界面では、金属の真空仕事関数によらず、ほぼ一定の1ショットキー障壁ができます。2006 年頃からの検証で、SS はバーディーン極限に近い 0.02、Φcnl\Phi_\mathrm{cnl} は約 0.6 eV と見積もられました。この Φcnl\Phi_\mathrm{cnl} は Ge の禁制帯幅と同程度です。

結果として、Ge の伝導帯への低い障壁は極めて作りにくくなります。n-Ge には伝導帯への高い障壁による整流性が、p-Ge には価電子帯への低い障壁によるオーミック性が出ます。

界面準位が増えるほど、Sは1から0へ寝る

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ショットキー障壁高さは Φbn=S(Φm−χ)+(1−S)Φcnl\Phi_\mathrm{bn} = S(\Phi_\mathrm{m} - \chi) + (1 - S)\Phi_\mathrm{cnl} で表され、SS と Φcnl\Phi_\mathrm{cnl} は半導体の1界面準位で決まると一般に考えられています。界面準位密度 DitD_\mathrm{it} が増えるにつれて、S=1S=1 のショットキー極限から S=0S=0 のバーディーン極限へ移ります。Ge のピン止めは Si と比べて圧倒的に強く、実験で求めた Φcnl\Phi_\mathrm{cnl} はバルク Ge の電荷中性準位に近い値です。

極薄の膜を挟むと、ピン止めが緩む

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ピン止めを緩める手
極薄の膜を挟むと、ピン止めが緩みます直に接した界面波動関数が染み込みます極薄の絶縁膜を挟んだ界面染み込みが減ります金属極薄の絶縁膜半導体ギャップ内の準位
Al/GeO2/Ge 接合で膜厚を増すと、n-Ge の整流性がオーミック性へ反転しました。波動関数の染み込みが減った証拠です。

FLP の起源としては、金属から半導体のギャップ内へ届く波動関数に由来する MIGS が最も妥当だと推測されています1。この立場では、絶縁膜が Ge への波動関数の浸み出しを抑え、MIGS を減らすと解釈できます。そこで、電流が流れる程度の極薄誘電体界面層で金属と Ge を離す実験が行われました。

Al/極薄 GeO2/Ge 接合では、GeO2 の膜厚が増えるとともに n-Ge への整流性が弱まってオーミック性が得られ、p-Ge では逆に整流性が強まりました。

障壁が下がらなければ、寄生抵抗も下がらない

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微細化されたデバイスでは、寄生抵抗を下げる観点からも、金属/Ge 界面の障壁の低減、つまり FLP の抑制が不可欠です1。コンタクト抵抗 RcR_\mathrm{c} は exp⁡(ΦB/ND)/Area\exp(\Phi_B/\sqrt{N_D})/\mathrm{Area} に比例するので2、障壁が下がらなければ濃度で押すことになります。

整流性とオーミック性の反転を使い、メタルソースドレイン型の Ge n-MOSFET の動作も実証されています。界面の作りが、素子の成否を左右します。

膜を挟む手も、低電子密度の金属も、抵抗と引き換え

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極薄の絶縁膜を挟めばピン止めが緩み、障壁を下げられます。その代わり、挟んだ膜そのものがトンネル抵抗として加わります。膜を薄くすれば抵抗は小さいものの、ピン止めを緩める効果も弱まります。低電子密度の金属を選ぶ道は膜を挟まずに済みますが、金属の抵抗率が高く、コンタクト用の薄膜としての使い方になります。

フェルミレベルピニングとは何ですか?

金属/半導体や金属/絶縁体の接合で、界面のフェルミ準位が特定のエネルギーへピン止めされるようにそろう状態です。理想のモット・ショットキーモデルとは別のそろい方です。

どのくらい強いことがありますか?

金属/Ge 界面では S がバーディーン極限に近い 0.02 と見積もられています。金属を替えても障壁はほぼ同じ高さです。

電荷中性準位はどこですか?

金属/Ge 界面の Φcnl は約 0.6 eV と見積もられています。Ge の禁制帯幅と同程度の値です。

実際の接合はどうなりますか?

n-Ge には伝導帯への高い障壁による整流性が、p-Ge には価電子帯への低い障壁によるオーミック性が出ます。

原因は何と考えられていますか?

金属から半導体のギャップ内へ届く波動関数に由来する MIGS が、最も妥当だと推測されています。

抑える手はありますか?

極薄の誘電体界面層で金属と Ge を離す手があります。Al/GeO2/Ge では膜厚の増加とともに n-Ge がオーミック性へ反転しました。

他に道はありますか?

低電子密度の金属を使う道があります。希土類金属ジャーマナイドは、n-Ge への低い障壁を保ったまま薄くできることが分かってきています。

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