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EPMA(電子プローブマイクロ分析)|検査・計測 › 計測 › 材料・表面分析

EPMA(電子プローブマイクロ分析)とは、細く絞った電子線で試料の微小領域を励起し、放出される特性X線の波長と強度から1元素の種類と量を求める分析法である。主に分光結晶で波長を選ぶ波長分散型(WDX)の分光器で測り、元素の比まで定量でき、膜の組成が狙いからずれていないかを追う場面で使われる。X線をエネルギーで分けるEDXより線が細く、近い元素どうしが重なりにくい。

工程の分類›検査・計測›計測›材料・表面分析› EPMA(電子プローブマイクロ分析)

材料・表面分析の下にある工程で、同じ分類にはほかに7工程がある。

断面観察(断面解析)、EDX(エネルギー分散型X線分光法)、ナノインデンテーション(ナノ硬さ試験)、ラマン分光、SIMS(二次イオン質量分析)、XRD(X線回折)、XPS(X線光電子分光)

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