コンテンツにスキップ

TLM(伝送線路モデル法)|検査・計測 › 計測

TLM(伝送線路モデル法)とは、間隔を変えて並べた電極の組の間の抵抗を測り、金属と半導体の接触抵抗と半導体層のシート抵抗を分けて求める測定法である。2本の電極で1回測るだけでは両者が混ざり、電流が電極の端に集中して流れるため、単純に電極面積で割ると接触抵抗率を誤る。電極間距離に対する抵抗の変化を直線で外挿し、その切片と傾きから両方の値を取り出す。

工程の分類›検査・計測›計測› TLM(伝送線路モデル法)

計測の下にある工程で、同じ分類にはほかに9工程がある。

CD-SEM(測長SEM)、オーバーレイ計測(重ね合わせ計測)、膜厚計測、OCD(光学式寸法計測)、AFM(原子間力顕微鏡)計測、材料・表面分析、四探針法(シート抵抗測定)、インライン電気試験、in-situ計測