ファンクションテストテスト
ファンクションテストとは、デバイスに入力を与え、仕様どおりの応答が返るかを確かめる試験である。命令の実行、演算、メモリの読み書き、アナログの応答など、製品の機能に合わせて入力と期待値を決める。故障モデルに基づくスキャンテストや、電圧・電流などの数値を測るパラメトリックテストと役割を分け、製品の動作そのものを直接確認する。入力の組み合わせが増えると、すべての状態を試すのは難しくなる。
分類上の位置
Section titled “分類上の位置”テストの下にある工程で、同じ分類にはほかに14工程がある。
同じ分類の工程
Section titled “同じ分類の工程”ウェーハテスト、ファイナルテスト、バーンイン、SLT（システムレベルテスト）、デバイス評価、ビン分け（ビニング）、コンカレントテスト（同時並列テスト）、外部ループバックテスト、IDDQテスト（静止時電流試験）、メモリ冗長救済（リペア）、OTA試験（無線空間伝搬試験）、パラメトリックテスト、PAT（パートアベレージテスト）、スキャンテスト