メモリ冗長救済（リペア）テスト
メモリ冗長救済（リペア）とは、テストで見つかったメモリの不良セルや不良の行・列を、あらかじめ用意した予備の行・列に置き換える工程である。不良箇所があっても予備回路へ切り替えて必要な記憶容量と動作を確保できるため、歩留まりが改善する。置き換えの後は全アドレスを再度確認して良品を判定する。予備回路を持つぶん、チップ面積と設計・試験の手間は増える。
分類上の位置
Section titled “分類上の位置”テストの下にある工程で、同じ分類にはほかに14工程がある。
同じ分類の工程
Section titled “同じ分類の工程”ウェーハテスト、ファイナルテスト、バーンイン、SLT（システムレベルテスト）、デバイス評価、ビン分け（ビニング）、コンカレントテスト（同時並列テスト）、外部ループバックテスト、ファンクションテスト、IDDQテスト（静止時電流試験）、OTA試験（無線空間伝搬試験）、パラメトリックテスト、PAT（パートアベレージテスト）、スキャンテスト