コンカレントテスト（同時並列テスト）テスト
コンカレントテスト（同時並列テスト）とは、1つのチップの中にある複数の回路ブロックを同時並行でテストする手法である。ブロックを順番に測ると合計時間は各ブロックの時間の和になるが、同時に測れば最も長いブロックの時間に近づくため、テスト時間を縮めてテストコストを下げられる。性格の異なるブロックを多く持つチップほど効果が大きい。
分類上の位置
Section titled “分類上の位置”テストの下にある工程で、同じ分類にはほかに14工程がある。
同じ分類の工程
Section titled “同じ分類の工程”ウェーハテスト、ファイナルテスト、バーンイン、SLT（システムレベルテスト）、デバイス評価、ビン分け（ビニング）、外部ループバックテスト、ファンクションテスト、IDDQテスト（静止時電流試験）、メモリ冗長救済（リペア）、OTA試験（無線空間伝搬試験）、パラメトリックテスト、PAT（パートアベレージテスト）、スキャンテスト