スキャンテストテスト
スキャンテストとは、回路内部のフリップフロップを鎖状につないだスキャン経路を使い、外部からデータを送り込んで内部状態を設定し、その結果を読み出して論理回路の故障を調べる試験である。内部状態を外から直接設定・観測できるので、外部端子からの入力だけでは届きにくい内部の故障を検出しやすくなる。代わりにスキャン用の回路追加とテスト時間が必要で、データの圧縮や並列化で時間を短縮する。
分類上の位置
Section titled “分類上の位置”テストの下にある工程で、同じ分類にはほかに14工程がある。
同じ分類の工程
Section titled “同じ分類の工程”ウェーハテスト、ファイナルテスト、バーンイン、SLT（システムレベルテスト）、デバイス評価、ビン分け（ビニング）、コンカレントテスト（同時並列テスト）、外部ループバックテスト、ファンクションテスト、IDDQテスト（静止時電流試験）、メモリ冗長救済（リペア）、OTA試験（無線空間伝搬試験）、パラメトリックテスト、PAT（パートアベレージテスト）