PAT（パートアベレージテスト）テスト
PAT（パートアベレージテスト）とは、測定値が製品規格の範囲内に収まっている個体の中から、同じ集団の分布と比べて大きく外れた個体を選び出して除く選別方法である。規格判定では合格になる個体にも潜在的な不良の兆候が現れることがあり、それを分布からの外れとして拾う。判定の境界を分布に応じて動かす方式はDPATと呼ばれる。良品を除き過ぎる危険もあるため、追加検査や品質の実績で選別条件を確かめる。
分類上の位置
Section titled “分類上の位置”テストの下にある工程で、同じ分類にはほかに14工程がある。
同じ分類の工程
Section titled “同じ分類の工程”ウェーハテスト、ファイナルテスト、バーンイン、SLT（システムレベルテスト）、デバイス評価、ビン分け（ビニング）、コンカレントテスト（同時並列テスト）、外部ループバックテスト、ファンクションテスト、IDDQテスト（静止時電流試験）、メモリ冗長救済（リペア）、OTA試験（無線空間伝搬試験）、パラメトリックテスト、スキャンテスト