SLT（システムレベルテスト）テスト
SLT（システムレベルテスト）とは、実際のシステムに近い基板の上でデバイスを動かし、起動や負荷処理などのソフトウェアを実行させて動作を確かめる試験である。端子ごとに個別のテスト信号を与えるATE（自動試験装置）の検査では、周辺部品との組み合わせや長い状態遷移を伴う不具合を拾いきれないため、それを補う。実使用に近い条件を確認できる反面、内部の故障位置を特定しにくく、処理時間も長くなる。
分類上の位置
Section titled “分類上の位置”テストの下にある工程で、同じ分類にはほかに14工程がある。
同じ分類の工程
Section titled “同じ分類の工程”ウェーハテスト、ファイナルテスト、バーンイン、デバイス評価、ビン分け（ビニング）、コンカレントテスト（同時並列テスト）、外部ループバックテスト、ファンクションテスト、IDDQテスト（静止時電流試験）、メモリ冗長救済（リペア）、OTA試験（無線空間伝搬試験）、パラメトリックテスト、PAT（パートアベレージテスト）、スキャンテスト