外部ループバックテストテスト
外部ループバックテストとは、デバイスの送信出力を外部の配線経路で受信入力へ戻し、送ったデータと戻ってきたデータを比べて、送受信回路と信号経路を試験する方法である。送信から受信までを1回でまとめて試せ、外部接続を含む経路が対象の速度で安定して動くかを確かめるのに使う。その反面、失敗したときに送信側と受信側のどちらが原因かを切り分けにくく、個別の送信・受信試験と併用する。
分類上の位置
Section titled “分類上の位置”テストの下にある工程で、同じ分類にはほかに14工程がある。
同じ分類の工程
Section titled “同じ分類の工程”ウェーハテスト、ファイナルテスト、バーンイン、SLT（システムレベルテスト）、デバイス評価、ビン分け（ビニング）、コンカレントテスト（同時並列テスト）、ファンクションテスト、IDDQテスト（静止時電流試験）、メモリ冗長救済（リペア）、OTA試験（無線空間伝搬試験）、パラメトリックテスト、PAT（パートアベレージテスト）、スキャンテスト